Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45) - Tapa dura
Libro 40 de 159: Springer Series in Optical Sciences
Sinopsis
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Nº de ref. del artículo: 9783540639763
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