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9783540639763 - Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45) de Reimer, Ludwig (9 resultados)
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Superbbooks, San Francisco, CA, Estados Unidos de America
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: SN Books Ltd, Thetford, Reino Unido
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Librería: Hübner Einzelunternehmen, Hamburg, HH, Alemania
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
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Añadir al carritoCondición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Scanning Electron Microscopy
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer Vieweg, Springer Sep 1998, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch.
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Scanning Electron Microscopy
Libro 56 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Sep 1998, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch.
