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Sinopsis
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Reseña del editor
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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- EditorialSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
- Año de publicación2020
- ISBN 10 3540853170
- ISBN 13 9783540853176
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de edición3
- EditorReichelt Rudolf
- Contacto del fabricanteno disponible
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Imagen de archivo
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
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Condición: Usado - bueno. Nº de ref. del artículo: 9783540853176
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