Artículos relacionados a Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation...
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45) - Tapa dura
Libro 40 de 159: Springer Series in Optical Sciences
Sinopsis
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
De la contraportada
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Otras ediciones populares con el mismo título
Resultados de la búsqueda para Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation...
Imagen del vendedor
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Librería: -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: good. A copy that has been read, remains in good condition. All pages are intact, and the cover is intact. The spine and cover show signs of wear. Pages can include notes and highlighting and show signs of wear, and the copy can include "From the library of" labels or previous owner inscriptions. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item! Ships via media mail. Nº de ref. del artículo: OTV.3540639764.G
Comprar usado
EUR 114,81
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Nº de ref. del artículo: G3540639764I4N00
Comprar usado
EUR 115,70
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Librería: Superbbooks, San Francisco, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Fine. 2nd Edition. EXCELLENT Unmarked PAGES And BINDING And COVER. Hardback. No dust Jacket, as issued. From the library of a Lawrence Livermore physicist. Approximately 6 X 9 ½. 527 pages. Nº de ref. del artículo: 006100
Comprar usado
EUR 111,38
Envío por EUR 4,33
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Librería: SN Books Ltd, Thetford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
hardcover. Condición: Very Good. Orders shipped daily from the UK. Professional seller. Nº de ref. del artículo: mon0000504473
Comprar usado
EUR 108,40
Envío por EUR 17,51
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Publicado por
Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10: 3540639764
ISBN 13: 9783540639763
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Hübner Einzelunternehmen, Hamburg, HH, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Pp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882. Nº de ref. del artículo: 114822
Comprar usado
EUR 150,00
Envío por EUR 41,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Nº de ref. del artículo: 706699/3
Comprar usado
EUR 118,81
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! Nº de ref. del artículo: Q-3540639764
Comprar nuevo
EUR 251,95
Envío por EUR 6,01
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Scanning Electron Microscopy
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service. Nº de ref. del artículo: POD-145781
Comprar nuevo
EUR 287,87
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 10 disponibles
Imagen del vendedor
Scanning Electron Microscopy
Publicado por
Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10: 3540639764
ISBN 13: 9783540639763
Nuevo
Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionMain benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in sca. Nº de ref. del artículo: 458677204
Comprar nuevo
EUR 311,76
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Scanning Electron Microscopy
Publicado por
Springer Vieweg, Springer Sep 1998, 1998
ISBN 10: 3540639764
ISBN 13: 9783540639763
Nuevo
Tapa dura
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783540639763
Comprar nuevo
EUR 374,49
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles