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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences) - Tapa dura
Sinopsis
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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- EditorialSpringer
- Año de publicación1998
- ISBN 10 3540639764
- ISBN 13 9783540639763
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas544
- EditorHawkes Peter W
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Publicado por
Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer,, 1998
ISBN 10: 3540639764
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning Electron Microscopy
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