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trace based post silicon validation vlsi de liu xiao (18 resultados)
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liu xiao
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: thebookforest.com, San Rafael, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,47
EUR 3,40 shipping
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Well packaged and promptly shipped from California. US veteran operated.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,77
EUR 3,40 shipping
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,77
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 123,04
EUR 3,40 shipping
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 135,01
EUR 3,40 shipping
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 126.
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Trace-based Post-silicon Validation for Vlsi Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,30
EUR 11,38 shipping
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 124 pages. 9.25x6.10x0.30 inches. In Stock.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,78
EUR 11,38 shipping
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2013 edition. 136 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,65
EUR 70,00 shipping
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits | Xiao Liu (u. a.) | Taschenbuch | Previously published in hardcover | xv | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319375946 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,94
EUR 61,01 shipping
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 160,63
EUR 28,46 shipping
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 173,52
EUR 28,46 shipping
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Berlin Springer International Publishing Springer Aug 2016, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 23,00 shipping
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices. 108 pp. Englisch.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 129,88
EUR 7,40 shipping
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2013
ISBN 10: 3319005324 ISBN 13: 9783319005324
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
EUR 48,99 shipping
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key c.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 93,00
EUR 48,99 shipping
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 133,03
EUR 9,95 shipping
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,66
EUR 7,40 shipping
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 126 59 Illus. (38 Col.).
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 144,94
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