Trace-based Post-silicon Validation for Vlsi Circuits

Libro 92 de 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

Liu, Xiao/ Xu, Qiang

ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Editorial: Springer Verlag, 2016
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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