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Thermal testing of integrated circuits.
Publicado por Boston, Mass., Kluwer Acad. Publ, 2002
ISBN 10: 1402070764 ISBN 13: 9781402070761
Idioma: Inglés
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 28,31
EUR 16,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. 204 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 9781402070761 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,63
EUR 2,28 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,95
EUR 17,01 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 132,18
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 226.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402070764 ISBN 13: 9781402070761
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,82
EUR 10,50 gastos de envío desde Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes. Num Pages: 204 pages, 102 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 240 x 160 x 14. Weight in Grams: 547. . 2002. Hardback. . . . .
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,67
EUR 17,01 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,04
EUR 2,28 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402070764 ISBN 13: 9781402070761
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,19
EUR 9,06 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes. Num Pages: 204 pages, 102 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 240 x 160 x 14. Weight in Grams: 547. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 138,85
EUR 7,37 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 226 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2002
ISBN 10: 1402070764 ISBN 13: 9781402070761
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,53
EUR 18,74 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 577.
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Thermal Testing of Integrated Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 226.
