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Sinopsis
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.
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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.
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Thermal testing of integrated circuits.
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Boston, Mass., Kluwer Acad. Publ, 2002
ISBN 10: 1402070764
ISBN 13: 9781402070761
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Thermal Testing Of Integrated Circuits
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Thermal Testing Of Integrated Circuits
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Thermal Testing of Integrated Circuits
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Thermal Testing of Integrated Circuits
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Thermal Testing of Integrated Circuits (Hardcover)
Publicado por
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ISBN 10: 1402070764
ISBN 13: 9781402070761
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behaviour in electronic systems. In this text, the authors present the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes. In the book, the basis of heat propagation, heat conducting mechanisms and temperature sensitivity of semiconductors are focused with a full coverage of the state-of-the art. We have usually the idea that all the heating processes are slow - this that is true in the macroscopic world is not in the case of integrated circuits where the reduced size and amount of material and the really high conductivity of substrates make the thermal testing a promising technique. CMOS and BICMOS temperature sensors for built-in thermal testing are presented in the book. The application of temperature as testing magnitude for both on-line and off-line, analog or digital, on-chip or off-chip are considered.The temperature sensing has an inherent directional capability that can be used as an element for localizing failures, so the technique has interesting diagnosis capabilities as well. Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Testing of circuits has become an essential process in IC manufacturing, in the effort to ensure that the manufactured components have the appropriate levels of quality. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9781402070761
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Thermal Testing of Integrated Circuits
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Thermal Testing of Integrated Circuits
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Thermal Testing of Integrated Circuits
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