Theory practice thermal transient (44 resultados)

- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,22
Envío por EUR 13,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 83,40
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 86,90
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 89,32
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 87,59
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 84,00
Envío por EUR 6,93Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 90,41
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 79,88
Envío por EUR 18,30Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: New.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 81,70
Envío por EUR 17,72Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 82,89
Envío por EUR 17,72Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New.

- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 88,68
Envío por EUR 13,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

- Tapa blanda
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 102,37
Gastos de envío gratisSe envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Paperback. Condición: New. 2022 ed. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 91,25
Envío por EUR 13,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 88,34
Envío por EUR 17,72Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 108,53
Gastos de envío gratisSe envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardback. Condición: New. 2022 ed. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (EDT); Farkas, Gábor (EDT); Poppe, András (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 90,89
Envío por EUR 17,72Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: StainesBookhub, Weybridge, SURRE, Reino UnidoStainesBookhub
Contactar con el vendedorVendedor de 2 estrellasCondición: Nuevo
EUR 101,14
Envío por EUR 35,44Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. A brand new book in pristine condition. Showing zero signs of shelf wear, creases, or damage.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2022
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 84,88
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Gebunden. Condición: New. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured.

- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 102,82
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 141,16
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.

- Tapa dura
Librería: Speedyhen, Hertfordshire, Reino UnidoSpeedyhen
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 102,03
Envío por EUR 48,44Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: NEW.

- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 81,80
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components | Marta Rencz (u. a.) | Taschenbuch | ix | Englisch | 2024 | Springer | EAN 9783030861766 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (Editor)/ Farkas, Gábor (Editor)/ Poppe, András (Editor)
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 145,75
Envío por EUR 14,77Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 394 pages. 9.25x6.10x0.81 inches. In Stock.

- Tapa blanda
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 99,29
Envío por EUR 76,79Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Paperback. Condición: New. 2022 ed. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 105,37
Envío por EUR 76,79Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardback. Condición: New. 2022 ed. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 148,88
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

- Tapa dura
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 192,61
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.

- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado
EUR 87,79
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 396 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.…

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (Editor)/ Farkas, Gábor (Editor)/ Poppe, András (Editor)
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 189,62
Envío por EUR 14,77Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 394 pages. 9.25x6.10x0.88 inches. In Stock.

- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 60,62
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.