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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,97
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,45
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,17
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,96
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,96
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,52
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 114,58
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,95
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 119,48
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,34
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,74
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Testing For Small-Delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits (
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,63
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Testing For Small-Delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits (
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,82
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Publicado por Taylor & Francis Group, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 166,07
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Testing For Small-Delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits (
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,63
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TESTING FOR SMALL-DELAY DEFECTS IN NANOSCALE CMOS INTEGRATED CIRCUITS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 191,24
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Publicado por Taylor & Francis Group, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,10
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 230,29
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Publicado por Taylor and Francis Inc, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Idioma: Inglés
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,10
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,00
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 230,98
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,02
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Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 221,52
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 238,09
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Goel, S: Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS I
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 246,59
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 254,51
Convertir monedaEUR 16,84 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 285,82
Convertir monedaEUR 11,50 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 250 pages. 9.49x6.10x0.87 inches. In Stock.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Publicado por Taylor & Francis Inc Okt 2013, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 301,14
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Advances in design methods and process technologies are causing a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variation, power supply, noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DiM)-related rule violations. The book also addresses small-delay defects (SDDs) and testing, which can cause immediate failures if introduced on both critical and non-critical paths in the circuit.
