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Testing Complex and Embedded Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2010
ISBN 10: 1439821402 ISBN 13: 9781439821404
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 159,20
Envío por EUR 3,44
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 320.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,63
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,01
Envío por EUR 17,19
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,02
Envío por EUR 19,31
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,88
Envío por EUR 17,19
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,48
Envío por EUR 13,73
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 153,45
Envío por EUR 28,65
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 185,44
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 218,53
Envío por EUR 14,33
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 384 pages. 9.20x6.20x1.00 inches. In Stock.
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Testing Complex and Embedded Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2010
ISBN 10: 1439821402 ISBN 13: 9781439821404
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 157,30
Envío por EUR 7,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 320 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam This item is printed on demand.
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Testing Complex and Embedded Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2010
ISBN 10: 1439821402 ISBN 13: 9781439821404
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,48
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 320.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,07
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Pries, K: Testing Complex and Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,48
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Kim H. Pries has a B.A. in history from the University of Texas at El Paso (UTEP), a B.S. in metallurgical engineering from UTEP, an M.S. in metallurgical engineering from UTEP, and an M.S. in metallurgical engineering and materials scie.
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Testing Complex and Embedded Systems
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 213,52
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Using combinatorial approaches, this book aims to motivate testers and testing organizations to perform meaningful testing. The text details essential planning activities prior to testing and describes how to scope the work and how to achieve a successful conclusion. Rather than presenting the entire continuum of testing for a particular product or design attribute, this volume focuses on boundary conditions. The authors provide various techniques that can be used to streamline testing and help identify problems before they occur, including turbocharged testing methods from Six Sigma. Coverage includes material on simulation and emulation.
