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Test Resource Partitioning For System-on-a-chip
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,13
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,51
EUR 3,45 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,04
EUR 2,29 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,85
EUR 3,45 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,31
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,81
EUR 2,29 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 123,06
EUR 3,45 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 252.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,41
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 111,13
EUR 17,62 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,40
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 130,54
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 252 Illus.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,35
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 130,92
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 252.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,01
EUR 3,45 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 248.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,68
EUR 10,50 gastos de envío desde Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . .
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,80
EUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip | Anshuman Chandra (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781461354000 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 118,64
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,39
EUR 9,09 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,77
EUR 61,91 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 174,62
EUR 28,45 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Publicado por Springer US, Springer New York Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements. 248 pp. Englisch.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 151,02
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 248 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 151,30
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 248.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Publicado por Springer US, Springer New York Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 248 pp. Englisch.
