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Test Resource Partitioning For System-on-a-chip
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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EUR 91,65
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
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EUR 115,36
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,14
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,52
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,27
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,97
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
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EUR 95,97
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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EUR 112,77
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,60
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 111,96
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 121,73
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,45
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 120,75
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 118,64
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,82
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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EUR 130,08
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 142,44
Convertir monedaEUR 9,79 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 248.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,77
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,10
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 175,93
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,40
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Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 385.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Publicado por Springer US, Springer New York Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 248 pp. Englisch.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,09
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements. 248 pp. Englisch.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,12
Convertir monedaEUR 10,15 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 248 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,35
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