Iyengar vikgram (2 resultados)

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    • Idioma: Inglés

      Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2002

      1402071191 / 9781402071195

      Serie: Libro 27 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa dura

      Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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      Condición: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . .…

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2002

      1402071191 / 9781402071195

      Serie: Libro 27 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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      Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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      Condición: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.…