Test pattern generation using de drechsler (22 resultados)
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solver…s and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work.
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and t…heir use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work.
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf, Eggersglüß, Stephan, Fey, Görschwin, Tille,
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engine
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
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Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern S…AT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work. 192 pp. Englisch.
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Rolf Drechsler|Stephan Eggersglüß|Görschwin Fey|Daniel Tille
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The first book giving a detailed overview on SAT-based ATPGAll techniques are validated on industrial designsA comprehensive introduction to Boolean Satisfiability1 Introduction. 2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fau…lt Models. 2.3 .
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Rolf Drechsler|Stephan Eggersglüß|Görschwin Fey|Daniel Tille
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, m…odern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work. 204 pp. Englisch.
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Condición: New. Print on Demand pp. 206 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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