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Structural dynamics electronic photonic (17 resultados)

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: AURIS REFERENCE LIMITED, 2015

    1781546894 / 9781781546895

    • Tapa blanda

    Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: AURIS REFERENCE LIMITED, 2015

    1781546894 / 9781781546895

    • Tapa blanda

    Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: AURIS REFERENCE LIMITED, 2015

    1781546894 / 9781781546895

    • Tapa blanda

    Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: AURIS REFERENCE LIMITED, 2015

    1781546894 / 9781781546895

    • Tapa blanda

    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: AURIS REFERENCE LIMITED, 2015

    1781546894 / 9781781546895

    • Tapa blanda

    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley and Sons, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: INDOO, Avenel, NJ, Estados Unidos de AmericaINDOO

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

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    EUR 164,07

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    Condición: New.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley and Sons Ltd, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura
    • Primera edición

    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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    Condición: New. The proposed book will offer comprehensive and versatile methodologies and recommendations on how to determine dynamic characteristics of typical micro- and opto-electronic structural elements (printed circuit boards, solder joints, heavy devices, etc. Editor(s): Suhir, Ephraim; Yu, T. X.; Steinberg, David S.; Connally, Eric. Num Pages: 608 pages, Illustrations. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 244 x 201 x 36. Weight in Grams: 1180. . 2011. 1st Edition. Hardcover. . . . . …

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: Ubiquity Trade, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaUbiquity Trade

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    EUR 240,09

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK

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    EUR 226,80

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    Condición: New.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Auris Reference, 2015

    1781546894 / 9781781546895

    • Tapa blanda

    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

    Vendedor de 4 estrellas
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    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 221,80

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    Mass Market Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    Condición: Nuevo

    EUR 221,17

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    Gebunden. Condición: New. Dr. EPHRAIM SUHIR is Fellow of the IEEE, ASME, APS, IoP (UK), and the SPE. He is Foreign Full Member (Academician) of the National Academy of Engineering, Ukraine cofounder of the ASME Journal of Electronic Packaging holds twenty-two U.S. patents and has.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley and Sons Ltd, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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    Condición: Nuevo

    EUR 283,68

    Envío por EUR 9,39 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

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    Condición: New. The proposed book will offer comprehensive and versatile methodologies and recommendations on how to determine dynamic characteristics of typical micro- and opto-electronic structural elements (printed circuit boards, solder joints, heavy devices, etc. Editor(s): Suhir, Ephraim; Yu, T. X.; Steinberg, David S.; Connally, Eric. Num Pages: 608 pages, Illustrations. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 244 x 201 x 36. Weight in Grams: 1180. . 2011. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. …

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK

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    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 296,96

    Envío por EUR 17,95 
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    Condición: As New. Unread book in perfect condition.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

    Vendedor de 4 estrellas
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    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 287,11

    Envío por EUR 29,91 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

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    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 322,85

    Envío por EUR 2,36 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: As New. Unread book in perfect condition.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley Mai 2011, 2011

    047025002X / 9780470250020

    • Tapa dura

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    Condición: Nuevo

    EUR 295,19

    Envío por EUR 43,18 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Buch. Condición: Neu. Neuware - The proposed book will offer comprehensive and versatile methodologies and recommendations on how to determine dynamic characteristics of typical micro and opto electronic structural elements (printed circuit boards, solder joints, heavy devices, etc.) and how to design a viable and reliable structure that would be able to withstand high level dynamic loading. Particular attention will be given to portable devices and systems designed for operation in harsh environments (such as automotive, aerospace, military, etc.) In depth discussion from a mechanical engineer s viewpoint will be conducted to the key components' level as well as the whole device level. Both theoretical (analytical and computer aided) and experimental methods of analysis will be addressed. The authors will identify how the failure control parameters (e.g. displacement, strain and stress) of the vulnerable components may be affected by the external vibration or shock loading, as well as by the internal parameters of the infrastructure of the device. Guidelines for material selection, effective protection and test methods will be developed for engineering practice.…