Scan statistics applications (44 resultados)
- Tapa dura
Librería: Books From California, Simi Valley, CA, Estados Unidos de AmericaBooks From California
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EUR 16,36
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Hardcover. Condición: Very Good.
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- Primera edición
Librería: Kadriin Blackwell, Greensville, ON, CanadaKadriin Blackwell
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EUR 21,97
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Hardcover. Condición: Fine. No Jacket. First Edition. Book.
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 112,88
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Condición: New. pp. 352.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 113,77
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Condición: New. pp. 352 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 121,70
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Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
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Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books
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EUR 128,58
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Condición: acceptable. This book is in Acceptable condition. All pages are intact, but may have lots of notes, water damage or other issues and be ex library.
- Tapa blanda
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Condición: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service.
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 166,18
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Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 166,18
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Condición: New. In.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 177,41
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 179,77
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 166,18
Envío por EUR 14,02Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 166,16
Envío por EUR 17,56Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 166,16
Envío por EUR 17,56Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 183,00
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 183,78
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 184,40
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 136,16
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 136,16
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 181,86
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. 352.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 183,58
Envío por EUR 17,56Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 183,58
Envío por EUR 17,56Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 140,10
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Scan Statistics and Applications | Joseph Glaz (u. a.) | Taschenbuch | Statistics for Industry and Technology | xxi | Englisch | 2012 | Birkhäuser | EAN 9781461272014 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Basel AG in Springer Science + Business Media, Heidelberger Platz 3, 14197 Berlin, juerg…en[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 212,55
Envío por EUR 3,45Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 352.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 205,24
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Scan statistics are used in many areas of science and technology to analyze the occurrence of observed clusters of events in time and space. This title covers such topics as: discrete scan statistics; finite Markov chain imbedding; continuous scan statistics; spatial scan statistics; and, applications in DNA sequ…ence analysis. Series: Statistics for Industry and Technology. Num Pages: 345 pages, biography. BIC Classification: PBT; TGPQ; TGPR. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 254 x 178 x 20. Weight in Grams: 827. . 1999. Hardback. . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Birkh?user, 2009
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 206,95
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. 2009. Hardcover. . . . . .
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 168,73
Envío por EUR 63,32Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The study of scan statistics and their applications to many different scientific and engineering problems have received considerable attention in the literature recently. In addition to challenging theoretical problems, the area of scan statis tics… has also found exciting applications in diverse disciplines such as archaeol ogy, astronomy, epidemiology, geography, material science, molecular biology, reconnaissance, reliability and quality control, sociology, and telecommunica tion. This will be clearly evident when one goes through this volume. In this volume, we have brought together a collection of experts working in this area of research in order to review some of the developments that have taken place over the years and also to present their new works and point out some open problems. With this in mind, we selected authors for this volume with some having theoretical interests and others being primarily concerned with applications of scan statistics. Our sincere hope is that this volume will thus provide a comprehensive survey of all the developments in this area of research and hence will serve as a valuable source as well as reference for theoreticians and applied researchers. Graduate students interested in this area will find this volume to be particularly useful as it points out many open challenging problems that they could pursue. This volume will also be appropriate for teaching a graduate-level special course on this topic.
