Reliability microtechnology interconnects devices de liu johan (10 resultados)
Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik
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Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik; Andersson, Cristina
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Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems
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Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik
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Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik; Andersson, Cristina
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Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik; Andersson, Cristina
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Taschenbuch. Condición: Neu. Reliability of Microtechnology | Interconnects, Devices and Systems | Johan Liu (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489982117 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
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Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general failure mechanisms. Specific failure modes in solder and conductive adhesives are discussed at great length. Coverage of accelerated testing, component and system level reliability, and reliability design for manufacturability are also described in detail.The book also includes exercises and detailed solutions at the end of each chapter. 204 pp. Englisch.…
