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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 34,62
Convertir monedaEUR 20,66 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Librería: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 28,31
Convertir monedaEUR 32,71 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,12
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,12
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,10
Convertir monedaEUR 17,35 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 144,04
Convertir monedaEUR 9,90 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 192.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,00
Convertir monedaEUR 11,56 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 180 pages. 9.25x6.10x0.44 inches. In Stock.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,23
Convertir monedaEUR 17,21 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,90
Convertir monedaEUR 64,56 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,23
Convertir monedaEUR 64,56 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 172,70
Convertir monedaEUR 17,35 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (22B))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,18
Convertir monedaEUR 28,91 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 195,64
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441953159 ISBN 13: 9781441953155
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,46
Convertir monedaEUR 6,30 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 329.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,68
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,66
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,96
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 192.
