Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)

Nicolici, Nicola; Al-Hashimi, Bashir M.

ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Editorial: Springer, 2003
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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