Models hardware testing lecture (10 resultados)

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 126,85
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
- Tapa dura
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 124,85
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.…
Más imágenesIdioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault | Hans-Joachim Wunderlich | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400730939 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 175,91
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 253,88
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Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER NATURE Dez 2009, 2009
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 106,99
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch.…