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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,85
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,37
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: Book House in Dinkytown, IOBA, Minneapolis, MN, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, Incorporated, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Very Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, Incorporated, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Cary, North Carolina, U.S.A.: Oxford Univ Pr, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: Rob the Book Man, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,58
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Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: GoldBooks, Denver, CO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,09
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2016
ISBN 10: 0198754752 ISBN 13: 9780198754756
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,17
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition (eng)
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,33
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,67
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 120,18
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2nd reprint edition. 423 pages. 9.00x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 131,66
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,79
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,36
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,36
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,52
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition (Hardcover)
Publicado por Oxford University Press, Oxford, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic force microscope (AFM), it provides non-destructive atomic and subatomic resolution on surfaces. Especially, in recent years, internal details of atomic and molecular wavefunctions are observed and mapped with negligible disturbance. Since the publication of its first edition, this book has been the standard referencebook and a graduate-level textbook educating several generations of nano-scientists. In Aug. 1992, the co-inventor of STM, Nobelist Heinrich Rohrer recommended: "The Introduction to Scanning tunnellingMicroscopy by C.J. Chen provides a good introduction to the field for newcomers and it also contains valuable material and hints for the experts". For the second edition, a 2017 book review published in the Journal of Applied Crystallography said "Introduction to Scanning tunnelling Microscopy is an excellent book that can serve as a standard introduction for everyone that starts working with scanning probe microscopes, and a useful reference book for those more advanced in the field". Thethird edition is a thoroughly updated and improved version of the recognized "Bible" of the field. Additions to the third edition include: theory, method, results, andinterpretations of the non-destructive observation and mapping of atomic and molecular wavefunctions; elementary theory and new verifications of equivalence of chemical bond interaction and tunnelling; scanning tunnelling spectroscopy of high Tc superconductors; imaging of self-assembled organic molecules on the solid-liquid interfaces. Some key derivations are rewritten using mathematics at an undergraduate level to make it pedagogically sound. This third edition is a thoroughly updated and improved version of the recognized "Bible" of the field. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 138,09
EUR 17,16 shipping
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition
Publicado por Oxford University Press, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,63
EUR 23,34 shipping
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,69
EUR 17,16 shipping
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Añadir al carritoCondición: New.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,70
EUR 23,55 shipping
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 983.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Publicado por Oxford University Press, 2007
ISBN 10: 0199211507 ISBN 13: 9780199211500
Idioma: Inglés
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,17
EUR 17,16 shipping
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 195,81
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Añadir al carritoCondición: New.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition
Publicado por Oxford University Press|OUP Oxford, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 146,29
EUR 48,99 shipping
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Añadir al carritoCondición: New. This third edition is a thoroughly updated and improved version of the recognized Bible of the field.The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 196,85
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Ships from Reino Unido to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 3rd edition. 528 pages. 9.25x6.00x1.25 inches. In Stock.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Monographs on the Physics & Chemistry of Materials)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 196,91
EUR 14,30 shipping
Ships from Reino Unido to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 432 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Hardcover)
Publicado por Oxford University Press Inc, New York, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Idioma: Inglés
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 233,12
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. Due to its nondestructive imaging power, scanning tunneling microscopy has found major applications in the fields of physics, chemistry, engineering, and materials science. This book provides a comprehensive treatment of scanning tunneling and atomic force microscopy, with full coverage of the imaging mechanism, instrumentation, and sample applications. The work is the first single-author reference on STM and presents much valuable information previously available only as proceedings or collections of review articles. It contains a 32-page section of remarkable STM images, and is organized as a self-contained work, with all mathematical derivations fully detailed. As a source of background material and current data, the book will be an invaluable resource for all scientists, engineers, and technicians using the imaging abilities of STM and AFM. It may also be used as a textbook in senior-year and graduate level STM courses, and as a supplementary text in surface science, solid-state physics, materials science, microscopy, and quantum mechanics. A guide to the use of STMs, written at the level of an advanced undergraduate physics student. The text can be read by nonspecialists working in related fields as well as students. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition
Publicado por Oxford University Press Mai 2021, 2021
ISBN 10: 0198856555 ISBN 13: 9780198856559
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 202,40
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic force microscope (AFM), it provides non-destructive atomic and subatomic resolution on surfaces. Especially, in recent years, internal details of atomic and molecular wavefunctions are observed and mapped with negligible disturbance. Since the publication of its first edition, this book has been the standard reference book and a graduate-level textbook educating several generations of nano-scientists. In Aug. 1992, the co-inventor of STM, Nobelist Heinrich Rohrer recommended: 'The Introduction to Scanning tunnelling Microscopy by C.J. Chen provides a good introduction to the field for newcomers and it also contains valuable material and hints for the experts'. For the second edition, a 2017 book review published in the Journal of Applied Crystallography said 'Introduction to Scanning tunnelling Microscopy is an excellent book that can serve as a standard introduction for everyone that starts working with scanning probe microscopes, and a useful reference book for those more advanced in the field'. The third edition is a thoroughly updated and improved version of the recognized 'Bible' of the field. Additions to the third edition include: theory, method, results, and interpretations of the non-destructive observation and mapping of atomic and molecular wavefunctions; elementary theory and new verifications of equivalence of chemical bond interaction and tunnelling; scanning tunnelling spectroscopy of high Tc superconductors; imaging of self-assembled organic molecules on the solid-liquid interfaces. Some key derivations are rewritten using mathematics at an undergraduate level to make it pedagogically sound.
