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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science)
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,50
Convertir monedaEUR 18,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. 1990. 160 Seiten Ehem. Bibliotheksexemplar mit üblichen Merkmalen wie Signatur und Stempel. Moderate Lager- und Gebrauchsspuren. Text bis auf selten mögliche Anstreichungen sauber. Insgesamt guter Zustand. Sprache: englisch. Ex library book with stamps and signature. Slight signs of use. Good condition. Language: english. 9780792390589 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 939.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 20,00
Convertir monedaEUR 16,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoKluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover----former library book in good condition- 460 Gramm.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 76,36
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Añadir al carritoHardcover. Condición: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 116,17
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 116,17
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,06
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,06
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Añadir al carritoCondición: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,64
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 143,10
Convertir monedaEUR 9,80 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 176.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,87
Convertir monedaEUR 63,91 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,20
Convertir monedaEUR 63,91 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,93
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated circuit technology. It is long been recognized that the testing prob lem can be alleviated by the use of higher-level methods in which multigate modules or cells are the primitive components in test generation; however, the development of such methods has proceeded very slowly. To be acceptable, high-level approaches should be applicable to most types of digital circuits, and should provide fault coverage comparable to that of traditional, low-level methods. The fault coverage problem has, perhaps, been the most intractable, due to continued reliance in the testing industry on the single stuck-line (SSL) fault model, which is tightly bound to the gate level of abstraction. This monograph presents a novel approach to solving the foregoing problem. It is based on the systematic use of multibit vectors rather than single bits to represent logic signals, including fault signals. A circuit is viewed as a collection of high-level components such as adders, multiplexers, and registers, interconnected by n-bit buses. To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel. However, by reducing the bus size from n to one, we can obtain the traditional gate-level circuit and models.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science (89))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,03
Convertir monedaEUR 28,88 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2011
ISBN 10: 1461288193 ISBN 13: 9781461288190
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,45
Convertir monedaEUR 6,13 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 308.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,55
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,42
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 176 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,89
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 176.
