Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)

Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.

ISBN 10: 079239058X ISBN 13: 9780792390589
Editorial: Springer, 1989
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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