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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,96
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,50
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,17
Convertir monedaEUR 17,11 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Publicado por Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2018
ISBN 10: 331984041X ISBN 13: 9783319840413
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,68
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Publicado por Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2016
ISBN 10: 3319488988 ISBN 13: 9783319488981
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,68
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 56,41
Convertir monedaEUR 17,33 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,49
Convertir monedaEUR 17,34 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,10
Convertir monedaEUR 17,11 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 71,23
Convertir monedaEUR 9,84 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,34
Convertir monedaEUR 17,34 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,61
Convertir monedaEUR 11,56 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,14
Convertir monedaEUR 64,18 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,49
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 98,82
Convertir monedaEUR 28,90 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 48,47
Convertir monedaEUR 92,43 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 72,25
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 74,92
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