Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Posser, Gracieli; Sapatnekar, Sachin S.; Reis, Ricardo

ISBN 10: 331984041X ISBN 13: 9783319840413
Editorial: Springer, 2018
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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