Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Posser, Gracieli; Sapatnekar, Sachin S.; Reis, Ricardo

ISBN 10: 3319488988 ISBN 13: 9783319488981
Editorial: Springer, 2016
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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