Digital logic testing simulation de miczo (27 resultados)
- Tapa dura
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hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Idioma: Inglés
Editorial: Reading, MA, U.S.A. : Addison-Wesley Educational Publishers,., 1986
- Tapa dura
Librería: Virginia Martin, aka bookwitch, Concord, CA, Estados Unidos de AmericaVirginia Martin, aka bookwitch
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Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: Unknown. Octavo, hardcover, near fine in white pictorial boards. Clean and unmarked. 414 pp New algorithms are being devised to create tests for logic circuits, and more attention is being given to design for test techniques. In this comprehensive volume the state of the art in d…igital system design and testing is discussed. (as per 1985). Book.
- Tapa blanda
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Condición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:047161307X.
- Tapa blanda
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Condición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:047161307X.
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Condición: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In poor condition, suitable as a reading copy. No dust jacket. Water damaged. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,750grams, ISBN:00…60444444.
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Condición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Book contains pencil markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,750…grams, ISBN:0060444444.
Editorial: Harper & Row, New York, 1985
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- Primera edición
Librería: Between the Covers-Rare Books, Inc. ABAA, Gloucester City, NJ, Estados Unidos de AmericaBetween the Covers-Rare Books, Inc. ABAA
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Hardcover. Condición: Fine. First edition. Near fine. Spine darkened just a little.
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Hardcover. Condición: Acceptable. Acceptable .Ships From Multiple Locations. book.
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Librería: GoldBooks, Denver, CO, Estados Unidos de AmericaGoldBooks
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HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Condición: new.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
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Condición: New.
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 696 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical t…o reliability, safety, and the bottom line. Yet, as digital systems become more ubiquitous and complex, the challenge of testing them has become more difficult. As one development group designing a RISC stated, "the work required to . . . test a chip of this size approached the amount of effort required to design it." A valued reference for nearly two decades, Digital Logic Testing and Simulation has been significantly revised and updated for designers and test engineers who must meet this challenge. There is no single solution to the testing problem. Organized in an easy-to-follow, sequential format, this Second Edition familiarizes the reader with the many different strategies for testing and their applications, and assesses the strengths and weaknesses of the various approaches. The book reviews the building blocks of a successful testing strategy and guides the reader on choosing the best solution for a particular application. Digital Logic Testing and Simulation, Second Edition covers such key topics as: Binary Decision Diagrams (BDDs) and cycle-based simulation Tester architectures/Standard Test Interface Language (STIL) Practical algorithms written in a Hardware Design Language (HDL) Fault tolerance Behavioral Automatic Test Pattern Generation (ATPG) The development of the Test Design Expert (TDX), the many obstacles encountered and lessons learned in creating this novel testing approach Up-to-date and comprehensive, Digital Logic Testing and Simulation is an important resource for anyone charged with pinpointing faulty products and assuring quality, safety, and profitability.
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 174,40
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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Condición: New.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. pp. xxii + 668 Illus.
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 243,00
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Condición: New. Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical to reliability, safety, and the bottom line. Num Pages: 696 pages, Illu…strations. BIC Classification: TJ. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 165 x 43. Weight in Grams: 1130. . 2003. 2nd Edition. Hardcover. . . . .
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Condición: New. pp. xxii + 668 Index 2nd Edition.
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 668 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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Condición: New. Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical to reliability, safety, and the bottom line. Num Pages: 696 pages, Illu…strations. BIC Classification: TJ. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 165 x 43. Weight in Grams: 1130. . 2003. 2nd Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 362,02
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
- Tapa dura
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical to reliability, safety, and the bottom line. Yet,… as digital systems become more ubiquitous and complex, the challenge of testing them has become more difficult. As one development group designing a RISC stated, "the work required to . . . test a chip of this size approached the amount of effort required to design it." A valued reference for nearly two decades, Digital Logic Testing and Simulation has been significantly revised and updated for designers and test engineers who must meet this challenge. There is no single solution to the testing problem. Organized in an easy-to-follow, sequential format, this Second Edition familiarizes the reader with the many different strategies for testing and their applications, and assesses the strengths and weaknesses of the various approaches. The book reviews the building blocks of a successful testing strategy and guides the reader on choosing the best solution for a particular application. Digital Logic Testing and Simulation, Second Edition covers such key topics as: * Binary Decision Diagrams (BDDs) and cycle-based simulation * Tester architectures/Standard Test Interface Language (STIL) * Practical algorithms written in a Hardware Design Language (HDL) * Fault tolerance * Behavioral Automatic Test Pattern Generation (ATPG) * The development of the Test Design Expert (TDX), the many obstacles encountered and lessons learned in creating this novel testing approach Up-to-date and comprehensive, Digital Logic Testing and Simulation is an important resource for anyone charged with pinpointing faulty products and assuring quality, safety, and profitability. Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical to reliability, safety, and the bottom line. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 668 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
