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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,83
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,70
EUR 13,68 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design-for-test and Test Optimization Techniques for Tsv-based 3d Stacked Ics
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,22
EUR 14,27 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2014 edition. 274 pages. 9.50x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 165,83
EUR 28,55 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 195,75
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 263.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,96
EUR 28,55 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 264 pages. 9.25x6.10x0.62 inches. In Stock.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 194,05
EUR 28,55 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Publicado por Springer International Publishing, 2013
ISBN 10: 3319023772 ISBN 13: 9783319023779
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 89,99
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive guide to the challenges and solutions for the testing of TSV-based 3D stacked ICsIncludes in-depth explanation of key test and design-for-test technologies, emerging standards, and test- architecture and test-schedule opti.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,39
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 200,58
EUR 7,42 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 263.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 207,52
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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