Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

Brandon Noia|Krishnendu Chakrabarty

ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Editorial: Springer International Publishing, 2016
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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