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Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
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Computed Electron Micrographs and Defect Indentification
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 11,69
Envío por EUR 9,22
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Ships from the UK. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.)
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 8,72
Envío por EUR 15,44
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 11,92
Envío por EUR 20,50
Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Bon. Edition 1973. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Edition 1973. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed electron micrographs and defect identification (Defects in crystalline solids, Volume 7)
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 19,34
Envío por EUR 20,50
Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1973. Tome 7. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1973. Volume 7. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)
Idioma: Inglés
Publicado por North Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,86
Envío por EUR 15,44
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 89,08
Envío por EUR 14,40
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
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Computed electron micrographs and defect identification (Defects in crystalline solids, Volume 7)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 91,38
Envío por EUR 28,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Computed electron micrographs and defect identification.
Publicado por Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
Librería: Antiquariat Löcker, Wien, Austria
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA VDAO
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,00
Envío por EUR 72,50
Se envía de Austria a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
