Characterization control interfaces high (42 resultados)
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Characterization & Control Of Interfaces For High Quality Advanced Materials
Ewsuk, Kevin; Nogi, Kiyoshi (EDT); Reiterer, Markus (EDT); Tomsia, Antoni (EDT); Glass, S. Jill (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Uematsu, Keizo (EDT); Naito, Makio (EDT); INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE CHARACTE
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Characterization & Control Of Interfaces For High Quality Advanced Materials
Ewsuk, Kevin; Nogi, Kiyoshi (EDT); Reiterer, Markus (EDT); Tomsia, Antoni (EDT); Glass, S. Jill (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Uematsu, Keizo (EDT); Naito, Makio (EDT); INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE CHARACTE
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Characterization & Control Of Interfaces For High Quality Advanced Materials
Ewsuk, Kevin; Nogi, Kiyoshi (EDT); Reiterer, Markus (EDT); Tomsia, Antoni (EDT); Glass, S. Jill (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Uematsu, Keizo (EDT); Naito, Makio (EDT); INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE CHARACTE
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Characterization & Control Of Interfaces For High Quality Advanced Materials
Ewsuk, Kevin; Nogi, Kiyoshi (EDT); Reiterer, Markus (EDT); Tomsia, Antoni (EDT); Glass, S. Jill (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Uematsu, Keizo (EDT); Naito, Makio (EDT); INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE CHARACTE
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Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials III : Ceramic Transactions; Proceedings of the Third International Conference on Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials Kurashiki, Japan (2009)
Ewsuk, Kevin (EDT); Naito, Makio (EDT); Kakeshita, Tomoyuki (EDT); Kirihara, Soshu (EDT); Uematsu, Keizo (EDT)
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Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials III : Ceramic Transactions; Proceedings of the Third International Conference on Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials Kurashiki, Japan (2009)
Ewsuk, Kevin (EDT); Naito, Makio (EDT); Kakeshita, Tomoyuki (EDT); Kirihara, Soshu (EDT); Uematsu, Keizo (EDT)
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Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials III : Ceramic Transactions; Proceedings of the Third International Conference on Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials Kurashiki, Japan (2009)
Ewsuk, Kevin (EDT); Naito, Makio (EDT); Kakeshita, Tomoyuki (EDT); Kirihara, Soshu (EDT); Uematsu, Keizo (EDT)
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Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials III : Ceramic Transactions; Proceedings of the Third International Conference on Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials Kurashiki, Japan (2009)
Ewsuk, Kevin (EDT); Naito, Makio (EDT); Kakeshita, Tomoyuki (EDT); Kirihara, Soshu (EDT); Uematsu, Keizo (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials II
Ewsuk, Kevin (EDT); Nogi, Kiyoshi (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Umakoshi, Yukichi (EDT); Hinklin, Tom (EDT)
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Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials II
Ewsuk, Kevin (EDT); Nogi, Kiyoshi (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Umakoshi, Yukichi (EDT); Hinklin, Tom (EDT)
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Paperback. Condición: Brand New. volume 146 edition. 486 pages. 9.25x6.25x1.10 inches. In Stock.
Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials II
Ewsuk, Kevin (EDT); Nogi, Kiyoshi (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Umakoshi, Yukichi (EDT); Hinklin, Tom (EDT)
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- Primera edición
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Condición: New. This proceedings volume features 59 peer-reviewed papers from ICCCI2009 on interface characterization and control technology, powder and composite processing, joining, the control of airborne particulates, new metallic glasses, and interface phenomena at high temperature. Editor(s): Ewsuk, Kevin; Naito, Makio; Ka…keshita, Tomoyuki; Kirihara, Soshu; Uematsu, Keizo; Abe, Hiroya. Series: Ceramic Transactions Series. Num Pages: 418 pages, Illustrations. BIC Classification: TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 246 x 167 x 26. Weight in Grams: 734. . 2010. 1st Edition. Hardcover. . . . .
Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials II
Ewsuk, Kevin (EDT); Nogi, Kiyoshi (EDT); Waesche, Rolf (EDT); Umakoshi, Yukichi (EDT); Hinklin, Tom (EDT)
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Condición: New. pp. xii + 405 1st Edition.
