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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,24
EUR 13,57 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 191,52
EUR 13,57 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 191,51
EUR 16,99 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 208,90
EUR 2,27 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,97
EUR 2,27 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,50
EUR 16,99 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Publicado por Springer Nature Singapore, 2023
ISBN 10: 9811985502 ISBN 13: 9789811985508
Idioma: Inglés
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,86
EUR 105,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 269,13
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 272,19
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2023rd edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 301,42
EUR 14,16 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 322 pages. 9.25x6.10x0.75 inches. In Stock.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 56,15
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,95
EUR 4,71 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Publicado por Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2024
ISBN 10: 9811985537 ISBN 13: 9789811985539
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 180,07
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. With the end of Dennard scaling and Moore s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault.
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Built-in Fault-tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-scale Chip Design
Publicado por Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9811985502 ISBN 13: 9789811985508
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 180,07
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. With the end of Dennard scaling and Moore s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault.
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 291,80
EUR 7,36 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 294,66
EUR 7,36 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 292,87
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 295,70
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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