Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

Li, Xiaowei; Yan, Guihai; Liu, Cheng

ISBN 10: 9811985537 ISBN 13: 9789811985539
Editorial: Springer, 2024
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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