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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,61
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,19
Envío por EUR 2,31
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 63,75
Envío por EUR 7,62
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,51
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 63,53
Envío por EUR 17,59
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,50
Envío por EUR 17,59
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 80,07
Envío por EUR 3,49
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,70
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Edición internacionalAdvanced VLSI Design and Testability Issues (Original Price £ 42.99)
ISBN 10: 104132393X ISBN 13: 9781041323938
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,43
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New.SoftCover International edition. Different ISBN and Cover image but contents are same as US edition.Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,27
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 76,08
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,69
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 378 pages. 9.21x6.14x1.02 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,30
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advanced VLSI Design and Testability Issues | Suman Lata Tripathi (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2022 | CRC Press | EAN 9780367538361 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,27
Envío por EUR 18,16
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,81
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 142,27
Envío por EUR 17,59
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 159,78
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Edición internacional
Advanced VLSI Design and Testability Issues (Original Price £ 42.99)
ISBN 10: 104132393X ISBN 13: 9781041323938
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,11
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,30
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,33
Envío por EUR 17,59
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,47
Envío por EUR 18,88
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,73
Envío por EUR 14,05
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 182,33
Envío por EUR 3,49
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 186,41
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 178,76
Envío por EUR 29,32
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 212,69
Envío por EUR 14,66
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues (Original Price £ 42.99)
ISBN 10: 104132393X ISBN 13: 9781041323938
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 40,48
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
ISBN 10: 104132393X ISBN 13: 9781041323938
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 26,47
Envío por EUR 7,62
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
ISBN 10: 104132393X ISBN 13: 9781041323938
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 26,65
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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