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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 4,47
EUR 3,26 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,97
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 3,98
EUR 3,91 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Second printing, 454 pp., hardcover, ex library, else text clean and binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Publicado por Springer, New York, NY, 1986
ISBN 10: 0306421402 ISBN 13: 9780306421402
Idioma: Inglés
Librería: West With The Night, Tucson, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 6,22
EUR 3,26 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHard cover. 1986 ed. Sewn binding. Cloth over boards. 454 p. Contains: Illustrations, black & white. Audience: General/trade. Very good. No dust jacket. light shelfwear po name inside cover.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 7,93
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Añadir al carritoCondición: Good. 1st Edition. Ships from the UK. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: The Book Spot, Sioux Falls, MN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,23
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Toscana Books, AUSTIN, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,53
EUR 3,73 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 87,72
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xii + 454.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 91,59
EUR 7,41 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xii + 454.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,08
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,53
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,55
EUR 13,66 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,05
EUR 14,25 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 466 pages. 8.75x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,80
EUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Patrick Echlin (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475790290 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,36
EUR 63,42 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 209,06
EUR 28,51 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Very Good. Ships from Multiple Locations. book.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Publicado por Springer, Springer Jun 2013, 2013
ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course. 476 pp. Englisch.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2013
ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,68
EUR 19,80 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 661.
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Publicado por Springer US, Springer New York Jun 2013, 2013
ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 476 pp. Englisch.
