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Frontiers in Electronic Testing (946 resultados)
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,69
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Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Fine. Used book that is in almost brand-new condition.
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,69
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Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 9,38
EUR 3,22 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,80
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Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
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Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,81
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Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 12,81
EUR 3,43 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Good condition! Any other included accessories are also in Good condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 12,81
EUR 3,43 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Patrico Books, Apollo Beach, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,04
EUR 3,43 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
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Embedded Processor Based Self Test
Libro 34 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books in my Basket, New Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,74
EUR 16,00 shipping
Ships from India to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 20 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. ISBN:9788184892321,Territorial restriction maybe printed on the book. This is an Int'l edition, ISBN and cover may differ from US edition, Contents same as US edition.
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Defect Oriented Testing For Nano Metric Cmos Vlsi Circuits
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books in my Basket, New Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,79
EUR 16,00 shipping
Ships from India to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. ISBN:9788184894295,Territorial restriction maybe printed on the book. This is an Int'l edition, ISBN and cover may differ from US edition, Contents same as US edition.
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Edición internacionalDEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Idioma: Inglés
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,96
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Añadir al carritoCondición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Edición internacional
EMBEDDED PROCESSOR BASED SELF TEST
Libro 34 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por New Age International Publisher, 2009
ISBN 10: 8184892322 ISBN 13: 9788184892321
Idioma: Inglés
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,29
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Añadir al carritoCondición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 21,71
EUR 3,86 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Price has been reduced by 10% until Monday, Dec. 8 (sale item) 150 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Idioma: Inglés
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,05
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Añadir al carritoCondición: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
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EMBEDDED PROCESSOR BASED SELF TEST
Libro 34 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por New Age International Publisher, 2009
ISBN 10: 8184892322 ISBN 13: 9788184892321
Idioma: Inglés
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,41
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Añadir al carritoCondición: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,91
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 0.85.
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Cmos Sram: Circuit Design And Parametric Test In Nano Scaled Technologies Process Aware Sram Design And Test
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books in my Basket, New Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,51
EUR 16,00 shipping
Ships from India to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. ISBN:9788132202325.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Libro 35 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,95
EUR 3,22 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: SatelliteBooks, Burlington, VT, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,50
EUR 4,72 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: As New. Hardcover, no DJ as issued Free of any markings and no writing. Minor shelf-wear. For Additional Information or pictures, Please Inquire.
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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Libro 5 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books in my Basket, New Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,04
EUR 16,00 shipping
Ships from India to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. ISBN:9788181288622.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Libro 11 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 28,25
EUR 6,00 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Libro 31 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por Kluwer Academic Pub, Boston, 1998
ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Idioma: Inglés
Librería: Feldman's Books, Menlo Park, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 30,96
EUR 3,86 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Fine. First Edition. A very clean, unmarked copy.
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 37,60
Gastos de envío gratis
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: Used - Very Good. Used - Like New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization.
Libro 7 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 23,95
EUR 12,95 shipping
Ships from Alemania to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritogebundene Ausgabe. Condición: Gut. 388 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 860.
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,37
EUR 5,74 shipping
Ships from Reino Unido to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: Used - Very Good. Used - Like New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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1990 HC Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Miki Store, San Jose, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,95
EUR 6,06 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Very Good. Pages are crisp and clean, no marking. Cover is verygood. Binding is tight/good.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Libro 15 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,09
Gastos de envío gratis
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Libro 15 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,09
Gastos de envío gratis
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits.
Libro 5 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por Boston, MA, Springer US., 2005
ISBN 10: 038725742X ISBN 13: 9780387257426
Idioma: Inglés
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 10,00
EUR 30,00 shipping
Ships from Alemania to Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Frontiers in Electronic Testing, 30. Sprache: Englisch.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 17)
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Textbooks_Source, Columbia, MO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,37
EUR 3,43 shipping
Ships within Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 9 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Corrected 2002. Ships in a BOX from Central Missouri! May not include working access code. Will not include dust jacket. Has used sticker(s) and some writing or highlighting. UPS shipping for most packages, (Priority Mail for AK/HI/APO/PO Boxes).
