9798337344614 - automating software defect detection through machine learning and llms (9 resultados)
- Tapa blanda
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 206,56
Envío por EUR 6,88Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Tapa blanda
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 214,91
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 217,00
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 206,55
Envío por EUR 17,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 226,53
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 226,64
Envío por EUR 17,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 216,61
Envío por EUR 43,35Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Paperback. Condición: new. Paperback. As software systems grow in complexity and scale, ensuring their reliability and quality becomes challenging. Traditional methods of defect detection are time-consuming, prone to errors, and inadequate for identifying issues. To address these limitations, the integration of machine learning…(ML) techniques and large language models (LLMs) emerges as a transformative approach in automating software defect detection. ML algorithms can learn from historical bug data to predict vulnerabilities, while LLMs can detect anomalies with high accuracy. This convergence holds the potential to improve automation, software engineering, and defect detection, while introducing new challenges in interpretability, data bias, and model reliability that require further exploration. Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs explores how cutting-edge technologies like machine learning (ML) and large language models (LLMs) transform software detection. It examines how these technologies enhance accuracy, scalability, and efficiency in identifying and mitigating software defects. This book covers topics such as algorithms, fraud detection, and software engineering, and is a useful resource for engineers, security professionals, academicians, researchers, and computer scientists. "This book provides a comprehensive understanding of how machine learning and large language models revolutionize the process of software defect detection"-- Provided by publisher. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
- Más imágenes
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 259,45
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs | Bryan Gardiner (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2025 | IGI Global | EAN 9798337344614 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
- Más imágenes
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 323,84
Envío por EUR 64,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - As software systems grow in complexity and scale, ensuring their reliability and quality becomes challenging. Traditional methods of defect detection are time-consuming, prone to errors, and inadequate for identifying issues. To address…these limitations, the integration of machine learning (ML) techniques and large language models (LLMs) emerges as a transformative approach in automating software defect detection. ML algorithms can learn from historical bug data to predict vulnerabilities, while LLMs can detect anomalies with high accuracy. This convergence holds the potential to improve automation, software engineering, and defect detection, while introducing new challenges in interpretability, data bias, and model reliability that require further exploration. Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs explores how cutting-edge technologies like machine learning (ML) and large language models (LLMs) transform software detection. It examines how these technologies enhance accuracy, scalability, and efficiency in identifying and mitigating software defects. This book covers topics such as algorithms, fraud detection, and software engineering, and is a useful resource for engineers, security professionals, academicians, researchers, and computer scientists.
