9789811985508 - built-in fault-tolerant computing paradigm for resilient large-scale chip design: a self-test, self-diagnosis, and self-repair-based approach de li, xiaowei; yan, guihai; liu, cheng (18 resultados)
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado
EUR 76,53
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 324 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | With the end of Dennard scaling and Moore¿s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book pr…esents a built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm that seeks to combine fault detection, fault diagnosis, and error recovery in large-scale VLSI design in a unified manner so as to minimize resource overhead and performance penalties. Following this computing paradigm, we propose a holistic solution based on three key components: self-test, self-diagnosis and self-repair, or ¿3S¿ for short. We then explore the use of 3S for general IC designs, general-purpose processors, network-on-chip (NoC) and deep learning accelerators, and present prototypes to demonstrate how 3S responds to in-field silicon degradation and recovery under various runtime faults caused by aging, process variations, or radical particles. Moreover, we demonstrate that 3S not onlyoffers a powerful backbone for various on-chip fault-tolerant designs and implementations, but also has farther-reaching implications such as maintaining graceful performance degradation, mitigating the impact of verification blind spots, and improving chip yield. This book is the outcome of extensive fault-tolerant computing research pursued at the State Key Lab of Processors, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences over the past decade. The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs. Hopefully, it will provide an alternative yet effective solution to the growing reliability challenges for large-scale VLSI designs.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 203,78
Envío por EUR 14,06Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 203,77
Envío por EUR 17,61Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 221,88
Envío por EUR 2,31Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 227,83
Envío por EUR 2,31Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 227,50
Envío por EUR 17,61Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 252,98
Envío por EUR 10,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 284,11
Envío por EUR 3,49Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 239,90
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: gut. 2023. Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design In deutscher Sprache. pages.
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 220,29
Envío por EUR 63,27Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - With the end of Dennard scaling and Moore's law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fau…lt-tolerant computing paradigm that seeks to combine fault detection, fault diagnosis, and error recovery in large-scale VLSI design in a unified manner so as to minimize resource overhead and performance penalties. Following this computing paradigm, we propose a holistic solution based on three key components: self-test, self-diagnosis and self-repair, or '3S' for short. We then explore the use of 3S for general IC designs, general-purpose processors, network-on-chip (NoC) and deep learning accelerators, and present prototypes to demonstrate how 3S responds to in-field silicon degradation and recovery under various runtime faults caused by aging, process variations, or radical particles. Moreover, we demonstrate that 3S not onlyoffers a powerful backbone for various on-chip fault-tolerant designs and implementations, but also has farther-reaching implications such as maintaining graceful performance degradation, mitigating the impact of verification blind spots, and improving chip yield.This book is the outcome of extensive fault-tolerant computing research pursued at the State Key Lab of Processors, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences over the past decade. The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs. Hopefully, it will provide an alternative yet effective solution to the growing reliability challenges for large-scale VLSI designs.
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Li, Xiaowei (Author)/ Yan, Guihai (Author)/ Liu, Cheng (Author)
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 307,80
Envío por EUR 14,67Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 322 pages. 9.25x6.10x0.75 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 321,14
Envío por EUR 9,20Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 166,29
Envío por EUR 6,80Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 180,07
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. With the end of Dennard scaling and Moore s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, thi…s book presents a built-in on-chip fault.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 213,99
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -With the end of Dennard scaling and Moore's law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a buil…t-in on-chip fault-tolerant computing paradigm that seeks to combine fault detection, fault diagnosis, and error recovery in large-scale VLSI design in a unified manner so as to minimize resource overhead and performance penalties. Following this computing paradigm, we propose a holistic solution based on three key components: self-test, self-diagnosis and self-repair, or '3S' for short. We then explore the use of 3S for general IC designs, general-purpose processors, network-on-chip (NoC) and deep learning accelerators, and present prototypes to demonstrate how 3S responds to in-field silicon degradation and recovery under various runtime faults caused by aging, process variations, or radical particles. Moreover, we demonstrate that 3S not onlyoffers a powerful backbone for various on-chip fault-tolerant designs and implementations, but also has farther-reaching implications such as maintaining graceful performance degradation, mitigating the impact of verification blind spots, and improving chip yield.This book is the outcome of extensive fault-tolerant computing research pursued at the State Key Lab of Processors, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences over the past decade. The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs. Hopefully, it will provide an alternative yet effective solution to the growing reliability challenges for large-scale VLSI designs. 324 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Nature Singapore Mär 2023, 2023
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 213,99
Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Chapter 1: Introduction.- Chapter 2: Fault-tolerant general circuits with 3S.- Chapter 3: Fault-tolerant general purposed processors with 3S.- Chapter 4: Fault-tolerant network-on-chip with 3S.- Chapter 5: Fault-tolerant deep learning processo…rs with 3S.- Chapter 6: Conclusion.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 324 pp. Englisch.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 303,45
Envío por EUR 7,63Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 302,17
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND.
