9789811344206 - progress in nanoscale characterization and manipulation: 272 (springer tracts in modern physics, 272) (9 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 de 227. Libro 213 de 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Editorial: Springer, 2019
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 de 227. Libro 213 de 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Taschenbuch. Condición: Neu. Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation | Rongming Wang (u. a.) | Taschenbuch | Springer Tracts in Modern Physics | vii | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789811344206 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann…[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer, 2019
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining… their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature Singapore Jan 2019, 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 de 227. Libro 213 de 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysi…s, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. 516 pp. Englisch.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming|Wang, Chen|Zhang, Hongzhou|Tao, Jing|Bai, Xuedong
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Singapore, 2019
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning ele…ctron mic.
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Editorial: Springer, 2019
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 de 227. Libro 213 de 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Editorial: Springer, Springer Jan 2019, 2019
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning electron microscopy, t…ransmission electron microscopy and helium ion microscopyExplores the growing opportunities in this field and introduces readers to state-of-the-art charged-particle microscopy techniquesSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 516 pp. Englisch.
