9789811304538 - progress in nanoscale characterization and manipulation: 272 (springer tracts in modern physics, 272) de wang (13 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Singapore, Springer. 2018
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 de 227. Libro 213 de 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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vii, 508 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Singapore, Springer 2018
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Hardcover. VII, 508. 333 illus., 26 illus. in color Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02774 9789811304538 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1150.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature Singapore 2018
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Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 516 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microa…nalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018
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Condición: New. In.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming (EDT); Wang, Chen (EDT); Zhang, Hongzhou (EDT); Tao, Jing (EDT); Bai, Xuedong (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018
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Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming (EDT); Wang, Chen (EDT); Zhang, Hongzhou (EDT); Tao, Jing (EDT); Bai, Xuedong (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer 2018
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their…crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018
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Editorial: Springer Verlag 2018
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Hardcover. Condición: Brand New. 508 pages. 9.25x6.25x1.75 inches. In Stock.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming|Wang, Chen|Zhang, Hongzhou|Tao, Jing|Bai, Xuedong
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Editorial: Springer Singapore 2018
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in sc…anning electron mic.
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Editorial: Springer Nature Singapore Sep 2018 2018
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and…examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. 516 pp. Englisch.
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Editorial: Springer 2018
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Buch. Condición: Neu. Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation | Rongming Wang (u. a.) | Buch | Springer Tracts in Modern Physics | vii | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9789811304538 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[d…ot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Editorial: Springer, Springer Sep 2018 2018
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning electron microscopy, transmis…sion electron microscopy and helium ion microscopyExplores the growing opportunities in this field and introduces readers to state-of-the-art charged-particle microscopy techniquesSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 516 pp. Englisch.
