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9789811227028 - SECONDARY ELECTRON ENERGY SPECTROSCOPY SCANNING ELECTRON de ANJAM KHURSHEED (12 resultados)
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy In The Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,56
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Secondary Electron Energy Spectroscopy In The Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy Scanning Electron
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Pub Co Inc, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Pub Co Inc, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electro.
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SECONDARY ELECTRON ENERGY SPECTROSCOPY SCANNING ELECTRON
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. SECONDARY ELECTRON ENERGY SPECTROSCOPY SCANNING ELECTRON | Khursheed Anjam | Buch | Gebunden | Englisch | 2020 | World Scientific | EAN 9789811227028 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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SECONDARY ELECTRON ENERGY SPECTROSCOPY SCANNING ELECTRON
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electrons, known as secondary electrons, are used mainly for the purpose of nanoscale topographic imaging. This book demonstrates the advantages of carrying out precision electron energy spectroscopy of its secondary electrons, in addition to them being used for imaging. The book will demonstrate how secondary electron energy spectroscopy can transform the SEM into a powerful analytical tool that can map valuable material science information to the nanoscale, superimposing it onto the instrument's normal topographic mode imaging. The book demonstrates how the SEM can then be used to quantify/identify materials, acquire bulk density of states information, capture dopant density distributions in semiconductor specimens, and map surface charge distributions.
