9789811074691 - vlsi design and test: 21st international symposium, vdat 2017, roorkee, india, june 29 - july 2, 2017, revised selected papers: 711 (communications in computer and information science, 711) (11 resultados)

Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Communications in Computer and Information Science, Libro 199 de 578. Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT)
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Editorial: Springer, 2017
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Taschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811074691 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr…. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (Editor)/ Dasgupta, Sudeb (Editor)/ Singh, Virendra (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag New York Inc, 2018
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Editorial: Springer, Springer, 2017
Serie: Communications in Computer and Information Science, Libro 199 de 578. Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Editorial: Springer, 2017
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Editorial: Springer, Springer Dez 2017, 2017
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully r…eviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 840 pp. Englisch.