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9789400797987 - Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty: 115 (Lecture Notes in Electrical Engineering) de Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John P.... (11 resultados)
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,74
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,15
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Smita Krishnaswamy (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9789400797987 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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EUR 170,97
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,77
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 170,46
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior. 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: moluna, Greven, Alemania
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EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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EUR 168,90
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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EUR 169,11
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