9783662444146 - structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint iapr international workshop, s+sspr 2014, joensuu, finland, august 20-22, 2014, ... vision, pattern recognition, and graphics) (13 resultados)
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Pasi Fr�nti, Francisco Escolano, Marcello Pelillo, Marco Loog, Gavin Brown
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR,…and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings | Pasi Fränti (u. a.) | Taschenbuch | xx | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9783662444146 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag… GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Rec…ognition, SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session. 500 pp. Englisch.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Fränti, Pasi|Brown, Gavin|Loog, Marco|Escolano, Francisco|Pelillo, Marcello
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014 comprising the International Workshop on Structural and Syntact…ic Pattern Recognition, SSPR, and the I.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recogni…tion, SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 500 pp. Englisch.
