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9783662444146 - Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, ... Vision, Patter... (13 resultados)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, ... Vision, Pattern Recognition, and Graphics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2014 edition. 500 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3662444143 ISBN 13: 9783662444146
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings | Pasi Fränti (u. a.) | Taschenbuch | xx | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9783662444146 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Aug 2014, 2014
ISBN 10: 3662444143 ISBN 13: 9783662444146
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session. 500 pp. Englisch.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3662444143 ISBN 13: 9783662444146
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014 comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR, and the I.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Aug 2014, 2014
ISBN 10: 3662444143 ISBN 13: 9783662444146
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 500 pp. Englisch.
