9783642062285 - infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: phonons, plasmons, and polaritons: 209 (springer tracts in modern physics) de schubert, mathias (9 resultados)

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      Editorial: Springer 2010

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      Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 109 de 227. Libro 109 de 227 - Springer Tracts in Modern Physics

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      Taschenbuch. Condición: Neu. Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures | Phonons, Plasmons, and Polaritons | Mathias Schubert | Taschenbuch | Springer Tracts in Modern Physics | xi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9783642062285 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 He

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      Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg 2010

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      Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared

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      Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes a powerful new method for investigating semiconductor layer structuresAuthor is a leading expert in the fieldThe study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field

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      Editorial: Springer, Springer Vieweg Nov 2010 2010

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