ISBN: 9783540620297 - x-ray scattering from thin films: high resolution x-ray scattering from crystalline thin films: vol 149 (springer tracts in modern physics) (1 resultados)
High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1998
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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