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  • Idioma: Inglés

    Publicado por Springer, 2006

    ISBN 10: 3540286039 ISBN 13: 9783540286035

    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido

    Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

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  • Beckhoff, B. (Editor)/ Kanngiefer, B. (Editor)/ Langhoff, N. (Editor)/ Wedell, R. (Editor)/ Wolff, H. (Editor)

    Idioma: Inglés

    Publicado por Springer Verlag, 2006

    ISBN 10: 3540286039 ISBN 13: 9783540286035

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido

    Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

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    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 863 pages. 9.00x6.25x1.50 inches. In Stock.

  • Burkhard Beckhoff

    Idioma: Inglés

    Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2006

    ISBN 10: 3540286039 ISBN 13: 9783540286035

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania

    Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

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    Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - X-Ray uorescence analysis (XRF) has developed into a well-established multi-elemental analysis technique with a very wide eld of practical app- cations, especially those requiring nondestructive analytical methods. Over a long period of time, steady progress of XRF was made, both methodological and instrumental. Within the last decade, however, advancements in te- nology, software development, and methodologies for quanti cation have p- vided an impetus to XRF research and application, leading to striking new improvements. The recent technological advances, including table-top inst- ments that take advantage of novel low-power micro-focus tubes, novel X-ray optics and detectors, as well as simpli ed access to synchrotron radiation, have made it possible to extend XRF to low Z elements and to obtain t- and three-dimensional information from a sample on a micrometer-scale. The development of portable and hand-held devices has enabled a more exible use of XRF in a variety of new situations, such as archaeometry and process control. Furthermore, synchrotron radiation provides high excitation ux and even speciation capabilities due to energetically tunable radiation. Because of these recent advancements, the editors decided to compile a practicalhandbookofXRFasaresourceforscientistsandindustrialusersthat providesenoughinformationtoconceiveandsetupmodernXRFexperiments foruseinawiderangeofpracticalapplications. Additionally,selectedsections consist of a concise summary of background information for readers who wish to gain a more in-depth understanding of the topics without conducting a lengthy search of the literature. The present handbook is not intended to be a textbook with interdependent chapters, rather a reference in which the information in each sectionis largely self-contained.

  • Burkhard Beckhoff

    Idioma: Inglés

    Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Jun 2006, 2006

    ISBN 10: 3540286039 ISBN 13: 9783540286035

    Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania

    Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

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    Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -X-Ray uorescence analysis (XRF) has developed into a well-established multi-elemental analysis technique with a very wide eld of practical app- cations, especially those requiring nondestructive analytical methods. Over a long period of time, steady progress of XRF was made, both methodological and instrumental. Within the last decade, however, advancements in te- nology, software development, and methodologies for quanti cation have p- vided an impetus to XRF research and application, leading to striking new improvements. The recent technological advances, including table-top inst- ments that take advantage of novel low-power micro-focus tubes, novel X-ray optics and detectors, as well as simpli ed access to synchrotron radiation, have made it possible to extend XRF to low Z elements and to obtain t- and three-dimensional information from a sample on a micrometer-scale. The development of portable and hand-held devices has enabled a more exible use of XRF in a variety of new situations, such as archaeometry and process control. Furthermore, synchrotron radiation provides high excitation ux and even speciation capabilities due to energetically tunable radiation. Because of these recent advancements, the editors decided to compile a practicalhandbookofXRFasaresourceforscientistsandindustrialuser sthat providesenoughinformationtoconceiveandsetupmodernXRFexperiments foruseinawiderangeofpracticalapplications. Additionally,selectedsections consist of a concise summary of background information for readers who wish to gain a more in-depth understanding of the topics without conducting a lengthy search of the literature. The present handbook is not intended to be a textbook with interdependent chapters, rather a reference in which the information in each sectionis largely self-contained.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 904 pp. Englisch.

  • Burkhard Beckhoff

    Idioma: Inglés

    Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Jun 2006, 2006

    ISBN 10: 3540286039 ISBN 13: 9783540286035

    Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania

    Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

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    Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -X-Ray uorescence analysis (XRF) has developed into a well-established multi-elemental analysis technique with a very wide eld of practical app- cations, especially those requiring nondestructive analytical methods. Over a long period of time, steady progress of XRF was made, both methodological and instrumental. Within the last decade, however, advancements in te- nology, software development, and methodologies for quanti cation have p- vided an impetus to XRF research and application, leading to striking new improvements. The recent technological advances, including table-top inst- ments that take advantage of novel low-power micro-focus tubes, novel X-ray optics and detectors, as well as simpli ed access to synchrotron radiation, have made it possible to extend XRF to low Z elements and to obtain t- and three-dimensional information from a sample on a micrometer-scale. The development of portable and hand-held devices has enabled a more exible use of XRF in a variety of new situations, such as archaeometry and process control. Furthermore, synchrotron radiation provides high excitation ux and even speciation capabilities due to energetically tunable radiation. Because of these recent advancements, the editors decided to compile a practicalhandbookofXRFasaresourceforscientistsandindustrialusersthat providesenoughinformationtoconceiveandsetupmodernXRFexperiments foruseinawiderangeofpracticalapplications. Additionally,selectedsections consist of a concise summary of background information for readers who wish to gain a more in-depth understanding of the topics without conducting a lengthy search of the literature. The present handbook is not intended to be a textbook with interdependent chapters, rather a reference in which the information in each sectionis largely self-contained. 904 pp. Englisch.

  • Beckhoff, Burkhard|Kanngießer, Birgit|Langhoff, Norbert

    Idioma: Inglés

    Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2006

    ISBN 10: 3540286039 ISBN 13: 9783540286035

    Librería: moluna, Greven, Alemania

    Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

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