9783319537672 - from variability tolerance to approximate computing in parallel integrated architectures and accelerators de rahimi, abbas; benini, luca; gupta, rajesh k. (10 resultados)
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on computing devices and their design at various levels to combat variability. The authors provide a review of key concepts with particular emphasis on timing errors caused by various variability sources. They discuss methods to predict…and prevent, detect and correct, and finally conditions under which such errors can be accepted; they also consider their implications on cost, performance and quality. Coverage includes a comparative evaluation of methods for deployment across various layers of the system from circuits, architecture, to application software. These can be combined in various ways to achieve specific goals related to observability and controllability of the variability effects, providing means to achieve cross layer or hybrid resilience.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on computing devices and their design at various levels to combat variability. The authors provide a review of key concepts with particular emphasis on timing errors caused by various variability sources. They discuss met…hods to predict and prevent, detect and correct, and finally conditions under which such errors can be accepted; they also consider their implications on cost, performance and quality. Coverage includes a comparative evaluation of methods for deployment across various layers of the system from circuits, architecture, to application software. These can be combined in various ways to achieve specific goals related to observability and controllability of the variability effects, providing means to achieve cross layer or hybrid resilience. 216 pp. Englisch.
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers challenges and opportunities in identifying microelectronic variability and the resulting errors at various layers in the system abstractionEnables readers to assess how various levels of circuit and…system design can mitigate the effec.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book focuses on computing devices and their design at various levels to combat variability. The authors provide a review of key concepts with particular emphasis on timing errors caused by various variability sources. They discuss methods… to predict and prevent, detect and correct, and finally conditions under which such errors can be accepted; they also consider their implications on cost, performance and quality. Coverage includes a comparative evaluation of methods for deployment across various layers of the system from circuits, architecture, to application software. These can be combined in various ways to achieve specific goals related to observability and controllability of the variability effects, providing means to achieve cross layer or hybrid resilience.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 216 pp. Englisch.
