9783211206874 - intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon (computational microelectronics) de pichler, peter (7 resultados)
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
- Tapa dura
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino UnidoPhatpocket Limited
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
- Tapa dura
Librería: Studibuch, Stuttgart, AlemaniaStudibuch
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
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Condición: gut. 2004. Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics) In deutscher Sprache. pages.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Vienna, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 de 17. Libro 13 de 17 - Computational Microelectronics
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First comprehensive review of intrinsic point defects and impurities in siliconCompiles all known information about structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the…diffusion behavior of intrinsi.
