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9783030692117 - Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques de Huhn, Sebastian; Drechsler, Rolf (14 resultados)
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,98
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,61
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,80
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Design For Testability, Debug And Reliab
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,56
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 154,12
Envío por EUR 3,44
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2021 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Design for Testability, Debug and Reliability | Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,15
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Design for Testability, Debug and Reliability | Next Generation Measures Using Formal Techniques | Sebastian Huhn (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9783030692117 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Design For Testability, Debug And Reliab
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,22
Envío por EUR 9,05
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2022
ISBN 10: 3030692116 ISBN 13: 9783030692117
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Envío por EUR 61,48
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.
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Design for Testability, Debug and Reliability (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 94,25
Envío por EUR 5,50
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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Design for Testability, Debug and Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing Apr 2022, 2022
ISBN 10: 3030692116 ISBN 13: 9783030692117
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces. 188 pp. Englisch.
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Design for Testability, Debug and Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2022
ISBN 10: 3030692116 ISBN 13: 9783030692117
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,04
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides readers with a combination of a comprehensive set of formal techniques covering and enhancing different aspects of the state-of-the-art design and test flow for ICsIntroduces newly developed heuristic, formal optimization-based and partit.
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 160,68
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 161,95
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND.
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Design for Testability, Debug and Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Apr 2022, 2022
ISBN 10: 3030692116 ISBN 13: 9783030692117
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 188 pp. Englisch.
